Skip to content

Гост рд 11 0755-90

Скачать гост рд 11 0755-90 rtf

Эта карта позволит определить наиболее критические операции с точки зрения надежности ИМС. Боровиков С. Герцбах И. Метод определения температурного коэффициента линейного расширения РД 11 Н, Половно A. При значительных воздействиях могут возникнуть условия, приводящие к браку кристаллов ИМС. Модераторы раздела l1l1l1. Рассмотрена возможность использования метода физико-технической экспертизы для других воздействующих факторов, в том числе длительных испытаний на наработку до отказа в электрическом режиме при повышенной температуре.

В результате экспериментальных исследований установлены: - метод статистического контроля технологических процессов изготовления микросхем для партий малого объема при прерывистом производстве; - влияние конструктивно-технологических решений, технологических операции, качества материалов на качество ИС. Пример 1. На основе анализа состояния проблемы оценки качества ИС определены важнейшие составляющие ускоренной оценки качества ИС, сформулированы основные задачи исследований в рамках настоящей диссертационной работы.

Спектральный метод бесконтактного измерения температуры кристаллов полупроводниковых источников света. Робототехника Модели, классификация, решения, научные исследования, варианты применения. В качестве ускоряющего фактора принимают температуру кристалла, обусловленную величиной рассеиваемой тепловой мощности и температурой окружающей среды. Фосфатные электролиты золочения. Но для определения коэффициента ускорения за счет этих факторов необходимы дополнительные целенаправленные и, как правило, экономически дорогостоящие исследования.

Диаграмма учитывает только технологическое время, необходимое на выполнение операций, и не учитывает время, обусловленное межоперационными простоями, и время, затрачиваемое на перенос изделия с одного рабочего места на другое. Требования к процессам производства и технологическому процессу.

Предложены аналитические выражения для оценки точности оператора визуального контроля, не зависящие от свойств контролируемой партии. Контрольные испытания на безотказность. Экономические аспекты критериев точности и настроенности технологических процессов.

Золочение изделий и фосфатных электролитах. Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем.

txt, PDF, rtf, djvu